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簡要描述:COSMOS-1X型熒光X線鍍層測厚儀(膜厚計(jì))
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詳細(xì)介紹
COSMOS-1X型熒光X線鍍層測厚儀(膜厚計(jì))
●Windows下中文操作界面
●緊湊小巧,低成本
●解析度0.001μm
●zui小測量面積0.1mm?
●可測量合金層的厚度以及成分比例
●對(duì)于多層鍍層可測量每一層精確厚度
●可通過X線進(jìn)行元素光譜分析
●適用對(duì)象:IC導(dǎo)線架、封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)
各機(jī)型規(guī)格參數(shù):
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搭載MS-WINDOWS系統(tǒng)(*的操作性與高精度測定)與IBM PC個(gè)人電腦相容 |
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